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A podridão da espiga do milho, causada pelo fungo Fusarium graminearum, representa uma ameaça séria à segurança alimentar por produzir micotoxinas tóxicas. Um estudo liderado pela Universidade de Illinois, em parceria com o governo canadense, identificou segmentos do genoma associados à resistência dessa doença.
A pesquisa avaliou três populações de linhas quase isogênicas (NILs) derivadas de cruzamentos entre linhagens comerciais e uma variedade selvagem de teosinto. Essas linhas compartilham o mesmo fundo genético, exceto por segmentos herdados de genitores diferentes.
Foram testadas em campo nos EUA e Canadá durante dois anos, com inoculações artificiais do patógeno por dois métodos distintos: canal do estigma e injeção direta no grão.
O estudo confirmou que o método de inoculação influencia a severidade da doença, mas não altera o ranking entre os genótipos.
Foram identificadas linhas significativamente mais suscetíveis à doença, com destaque para regiões nos cromossomos 1, 5 e 9. Uma região extensa no cromossomo 5 se destacou como um possível "hotspot" de resistência não apenas à podridão-da-espiga, mas também a outras doenças fúngicas da espiga.
A equipe também realizou mapeamento de QTLs (loci de características quantitativas) na população DRIL. Quatro marcadores ligados à resistência foram encontrados, sendo três com alelos do genitor suscetível que aumentaram a severidade da doença.
Apesar da forte influência ambiental observada nos ensaios, os dados apontam regiões genômicas com potencial para futuras validações.
Outras informações em doi.org/10.1002/csc2.70187
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